多次进样后，Xevo TQD 的灵敏度显着下降 - WKB98666
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故障描述
- 进样 80 次后灵敏度显着下降
- 清洗离子源可将灵敏度恢复到预期水平
- 充电测试未显示充电迹象
- 仅清洗锥孔和气体锥孔喷嘴即可将灵敏度恢复到预期水平
环境
- Xevo TQD
原因
运行期间，样品基质中有物质聚集在锥孔上
解决方法
- 每批样品后清洁样品锥孔和气体锥孔喷嘴
运行期间，样品基质中有物质聚集在锥孔上