使用 UniSpray 时，Xevo TQ-XS 的灵敏度低 - WKB76652

故障描述

• 使用 UniSpray 作为离子源外壳时，灵敏度显著下降
• 使用 ESI 作为离子源外壳时，响应值符合预期
• 撞击器针头明显变脏

环境

• Xevo TQ-S micro
• Xevo TQ-XS

原因

撞击器针头非常脏。形状不再是圆形

解决方法

按照 WKB83167 中的说明清洁撞击器针头。

如果撞击器针头仍然很脏，请执行以下操作：

1. 在盛有水 + 大约 5% 甲酸的烧杯中对撞击器针头超声 20 分钟。
2. 用水冲洗撞击器针头以除去酸。
3. 在盛有水的烧杯中对撞击器针头超声 20 分钟。
4. 在盛有甲醇的烧杯中对撞击器针头超声 20 分钟。
5. 用氮气吹干撞击器针头。
6. 如果清洁后问题仍然存在，请更换撞击器针头 (p/n 700011196)

附加信息

如果发生电离的停滞区域中的撞击器针头有间隙或损坏，电离效率将降低。

在这种情况下，针头没有间隙，但有大量污垢粘附在针头外侧，使其成为非圆形。这也可能导致灵敏度降低。

如果方法中使用的流动相含有无机盐，为防止撞击器针头上发生物质积聚并延长使用寿命，请分别在色谱分析开始和结束时将 UPLC 液流转入废液 (WKB12652)。