在负离子模式下 LockSpray 设置失败 - WKB3445

故障描述

• 在负离子模式下 LockSpray 设置失败
• 由于强度不足，IntelliStart 报告失败，但 Tune 页面中的锁定质量数峰强度很大
• 在设置过程中，锁定质量数峰明显移动到了错误的质量数位置上

环境

• Xevo G2 Tof
• Xevo G2 QTof
• MassLynx 4.1 SCN 802
• SCN 862

原因

软件在负离子模式下错误地使用了正离子特定的 Veff 值进行强度检查。

解决方法

1. 确保正离子和负离子模式下的 Veff 值设置正确。
2. 确保锁定质量数峰强度足够大。
3. 在 LockSpray 设置强度检查中，确认负离子模式下的锁定质量数峰在正确位置的 2 Da 范围内。
4. 在 LockSpray Setup Report（LockSpray 设置报告）的 Detected Mass（检测的质量数）列中显示正确的质量数。

附加信息

目前在负离子 LockSpray 设置中使用正离子 Veff 值的问题还没有解决，但按照上面的步骤可以将影响降至最低。

要设置 Veff：

1. Tune 页面应为 System（系统）视图。
2. 在菜单栏中，转到 System > Acquisition settings（系统 > 采集设定）。
3. 指定参比化合物（例如，亮氨酸脑啡肽）的参比质量数和观测质量数。
4. 单击 Calculate（计算）。
5. 单击 Update（更新）。