清洗样品锥孔和锥孔气体喷嘴后，质谱仪无法抽真空 - WKB237400

故障描述

• 取下样品锥孔进行清洗
• 质谱仪已放空进行维护
• 涡轮泵速度只能达到 58%
• 质谱仪放空（低真空错误）

环境

• Xevo TQ-S micro
• Xevo TQD
• Xevo TQ-XS
• Vion IMS QTof
• Xevo G2 QTof/Tof
• Xevo G2-S/XS
• Xevo QTof MS
• Xevo TQ-MS
• Xevo TQ-S
• Xevo TQ-S cronos
• SQD2 质谱检测器
• SQD 质谱检测器
• TQD 质谱检测器
• 3100 质谱检测器

原因

样品锥孔未正确安装在离子源模块上。

解决方法

1. 关闭质谱源上的隔离阀。
2. 启动真空系统（Tune page > Vacuum > Pump（Tune 页面 > 真空 > 泵））。
3. 等待分子泵速度达到 100%。
4. 打开隔离阀。

附加信息

样品锥孔突然抽高真空，将样品锥孔拉到正确的位置。

打开隔离阀时，如果分子泵速度开始下降，请关闭隔离阀，取下样品锥孔，并重置样品锥孔 O 形圈。更换源上的样品锥孔和气体喷嘴，然后重复步骤 4。

如果重新安装样品锥孔后问题仍然存在，请更换样品锥孔 O 形圈，部件号 = 700004321。