检测器设置失败，出现离子束错误 - WKB12269

故障描述

• 设置检测器电压时出现 Beam error - too many beam intensity failures（离子束错误 - 离子束强度过多失败）或 Beam error - beam too weak（离子束错误-离子束过弱）错误
• 即使在 LeuEnk 的离子束稳定的情况下，也会出现问题
• 流速或灵敏度较高时，无法充分提高离子束强度
• Leu Enk 的同位素图谱异常（第二和第三同位素峰相对强度异常，或同位素之间出现伪峰）
• 第二 C13 同位素 (M+2) 不可见

环境

• Xevo G2
• Xevo G2-S
• Xevo G2-XS
• Xevo G3
• Synapt G2
• Synapt G2-S
• Synapt G2-Si
• Synapt XS

原因

该问题与检测器设置开始时的检测器电压过高或过低有关。

解决方法

1. 在 Tune 页面上，点开 Setup（设置）下拉菜单并选择 System View（系统视图）
2. 输入密码：access
3. 转到 System（系统）下拉菜单（不是 system 1（系统 1）或 system 2（系统 2）选项卡）
4. 选择 Auto Values（自动值）并在 Resolution Mode（分辨率模式）下手动调整检测器电压
   
5. 如果信号太高且在真实峰之后出现伪峰，则降低检测器电压以去除伪峰，同时保持较强的 LeuEnk 信号。
6. 如果信号过低且 Leu Enk 的同位素模式异常，则增加检测器电压从而达到中等的 e⁵ 信号
   
7. 单击 Update（更新）和 Close（关闭）。
8. 保存包含系统设置的 Tune 页面并备份到 EPC
   
9. 运行 Detector Setup（检测器设置）。
10. 如有必要，请重复执行负离子模式并将系统设置再次备份到 EPC 以保存最佳值

附加信息

确保离子束稳定（脱溶剂气温度过高和气体流速过高会导致离子束不稳定）

应根据需要调整指定质量数位置

毛细管电压不能过高，否则有可能导致检测器过载

使用新的检测器或数月不开机的仪器重启后，检测器增益通常会发生较大变化。

检测器设置算法的第一步是将电压降低 25 V，确保电压没有设置得过高。但是，当系统很长时间没有检测器设置或检查运行时，25 V 的压降可以有效地消除离子束。 2e5 信号可能会降至零，导致用户混淆强度错误与 2e5 信号。在这种情况下，手动增加系统电压可使液滴维持信号。

由于同位素分布对最佳检测至关重要，因此 LeuEnk 是唯一可用于检测器设置的化合物。 LeuEnk 中有 28 个碳原子。 C12 到 C13 的天然丰度分别为 98.9% 到 1.1%。因此分子中含有单个 13C 原子的概率为：28 x 0.011 = 0.308 (30.8%)。这就是为什么第二个峰必须约为 30% 以确保设置正确的原因。