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错误:Beam error - Too many beam intensity failures(离子束错误 - 离子束强度过多失败)- WKB12269

故障描述

检测器电压设置过程中发生 Beam error - Too many beam intensity failures(离子束错误 - 离子束强度过多失败)错误。该问题即使在 LeuEnk 离子束稳定的情况下也会出现。

环境

  • Xevo G2
  • Xevo G2-S
  • Xevo G2-XS

原因

该问题与检测器设置开始时的检测器电压过高或过低有关。

修复/解决方法

  1. 在 Tune 页面的菜单中,进入 System(系统)> Auto Values(自动值)。
  2. 如果信号太高且在真实峰之后出现伪峰,则降低检测器电压以去除伪峰,调整检测器电压时要确保 LeuEnk 的信号较强:中等的 e6
  3. 如果信号太低,则增加检测器电压从而达到中等的 e6 信号
  4. 单击 Update(更新)和 Close(关闭)。
  5. 重新运行检测器设置。

附加信息

确保离子束信号稳定(脱溶剂气温度过高、气体流量过大会导致离子束信号不稳定)。
应调整额定质量数位置,尤其是在灵敏度模式下(缺省模式)。
毛细管电压不应太高,否则可能导致检测器过载。